講演情報

[1MH16]セパレーター細孔構造と電池性能の関係を評価するFIB-SEM技術と構造解析

*門井 美純1、広瀬 治子1、工藤 元樹2、西川 聡3、尾山 太郎3、佐々木 義和1 (1. 日本電子株式会社 (日本)、2. 株式会社MediEng (日本)、3. 帝人株式会社 (日本))

キーワード:

Separator、Simulation、Tomography