セッション詳細
分析
2017年6月14日(水) 13:00 〜 17:30
6階 ホール6A TKP市ヶ谷
司会:長井 陽一(DOWAテクノロジー(株))、永岡 信(三井金属鉱業(株))、樫村 寛(JX金属(株))、佐々木 公司(住友金属鉱山(株))、稊 伸一郎(三菱マテリアル(株))
[1TKP6A01-11-01]議長挨拶
○樫村 寛1 (1. 分析部会議長 JX金属(株))
[1TKP6A01-11-02]高感度EDS 検出器搭載STEM による粒界近傍の局所微量分析
○千葉 一1、吉野 路英2 (1. 三菱マテリアル(株) 中央研究所 材料解析研究部、2. 三菱アルミニウム(株) 研究開発部)
司会:長井 陽一(DOWAテクノロジー(株))
[1TKP6A01-11-03]亜鉛原料中の亜鉛定量におけるイオン交換分離操作の自動化
○西谷 大輔1、玉川 雅幸1、田中 義充1 (1. (株) 産業公害・医学研究所 八戸分室)
司会:長井 陽一(DOWAテクノロジー(株))
休憩
[1TKP6A01-11-04]ICP-MS による高マトリックス溶液中の微量元素分析
○塩澤 隆二1、城戸 孝文1、森島 健一1 (1. JX 金属(株) 技術開発センター)
司会:永岡 信(三井金属鉱業(株))
[1TKP6A01-11-05]単色X線を用いた粉末XRD 測定技術について
○小野 勝史1、林 一英2 (1. 住友金属鉱山(株) 評価技術部 市川評価技術室、2. 住友金属鉱山(株)電池研究所)
司会:永岡 信(三井金属鉱業(株))
