セッション詳細

分析

2017年6月14日(水) 13:00 〜 17:30
6階 ホール6A TKP市ヶ谷
司会:長井 陽一(DOWAテクノロジー(株))、永岡 信(三井金属鉱業(株))、樫村 寛(JX金属(株))、佐々木 公司(住友金属鉱山(株))、稊 伸一郎(三菱マテリアル(株))

[1TKP6A01-11-01]議長挨拶

○樫村 寛1 (1. 分析部会議長 JX金属(株))

[1TKP6A01-11-02]高感度EDS 検出器搭載STEM による粒界近傍の局所微量分析

○千葉 一1、吉野 路英2 (1. 三菱マテリアル(株) 中央研究所 材料解析研究部、2. 三菱アルミニウム(株) 研究開発部)
司会:長井 陽一(DOWAテクノロジー(株))

[1TKP6A01-11-03]亜鉛原料中の亜鉛定量におけるイオン交換分離操作の自動化

○西谷 大輔1、玉川 雅幸1、田中 義充1 (1. (株) 産業公害・医学研究所 八戸分室)
司会:長井 陽一(DOWAテクノロジー(株))

休憩

[1TKP6A01-11-04]ICP-MS による高マトリックス溶液中の微量元素分析

○塩澤 隆二1、城戸 孝文1、森島 健一1 (1. JX 金属(株) 技術開発センター)
司会:永岡 信(三井金属鉱業(株))

[1TKP6A01-11-05]単色X線を用いた粉末XRD 測定技術について

○小野 勝史1、林  一英2 (1. 住友金属鉱山(株) 評価技術部 市川評価技術室、2. 住友金属鉱山(株)電池研究所)
司会:永岡 信(三井金属鉱業(株))

休憩

[1TKP6A01-11-06]封止デバイス中のガス成分分析技術の開発

○小沢 洋1 (1. 三菱マテリアル(株) 中央研究所 分析評価研究部)
司会:樫村 寛(JX金属(株))

[1TKP6A01-11-07]廃触媒中の貴金属類抽出方法の検討

○馬場 諒1、菅原 公子1、清水  透1 (1. DOWA テクノロジー(株) 関東テクノセンター)
司会:樫村 寛(JX金属(株))

休憩

[1TKP6A01-11-08]高銀残渣の蛍光X 線分析方法

○安藤 綾子1、田子 智明1、小島 敏昭1 (1. 東邦亜鉛(株) 安中製錬所 品質保証部)
司会:佐々木 公司(住友金属鉱山(株))

[1TKP6A01-11-09]硫黄含有試料中の酸素分析法確立

○上田 孝樹1、遠藤  哲1 (1. 三井金属鉱業(株) 基礎評価研究所 分析技術統括センター)
司会:佐々木 公司(住友金属鉱山(株))

休憩

[1TKP6A01-11-10]ニッケル精錬中間工程のチオ硫酸ナトリウムの分析

○淵本 幸宏1 (1. 住友金属鉱山(株) 評価技術部新居浜評価技術室)
司会:稊 伸一郎(三菱マテリアル(株))

[1TKP6A01-11-11]ISO/TC183 第17回国際会議(松江)報告

○佐々木 公司1 (1. 住友金属鉱山(株))
司会:稊 伸一郎(三菱マテリアル(株))