2020年度 全国鉱山・製錬所現場担当者会議
詳細検索

セッション詳細

分析一般講演

分析部門

2020年6月10日(水) 12:50 〜 17:30
TKP市ヶ谷 6階ホール6C
司会:樫村 寛(JX金属（株）)、長井 陽一(DOWAテクノロジー株式会社)、永岡 信(三井金属鉱業（株）)、藤田 義雄(住友金属鉱山株式会社)、富岡 賢一(三菱マテリアル株式会社)
12:50 〜 12:55

[1bunseki01-12-01]議長挨拶

○富岡 賢一1 (1. 分析部会議長　三菱マテリアル(株))
12:55 〜 13:20

[1bunseki01-12-02]多成分試料のLC/MS/MS でのグラジエント溶離における保持時間の予測

○澁川 卓実1 (1. DOWA テクノロジー (株) 関東テクノセンター)
13:20 〜 13:45

[1bunseki01-12-03]二重収束型ICP-MS を用いたナノ粒子粒径分布測定の検討

○森 裕輝1 (1. 三井金属鉱業 (株) 基礎評価研究所)
13:45 〜 13:50

[1bunseki01-12-4add]休憩

13:50 〜 14:15

[1bunseki01-12-04]集束オンビーム (FIB) 加工観察装置を用いた3次元観察

○千代 勇樹1 (1. 三菱マテリアル (株) 中央研究所)
14:15 〜 14:40

[1bunseki01-12-05]微量Ir、Ru、Rh 分離分析法の開発

○淵本 幸宏1 (1. 住友金属鉱山 (株) 新居浜評価技術室)
14:40 〜 14:45

[1bunseki01-12-7add]休憩

14:45 〜 15:10

[1bunseki01-12-06]銅滴定の自動化

○萩原 国広1、田子 智明1 (1. 東邦亜鉛 (株) 安中製錬所 品質保証部)
15:10 〜 15:35

[1bunseki01-12-07]MLA 鉱物分析に適した試料調整方法

○長谷川 誠二1、麻生 昭弘1、田浦 弘史1、木村 昌弘1 (1. JX金属 (株) 技術開発センター 分析グループ)
15:35 〜 15:40

[1bunseki01-12-10add]休憩

15:40 〜 16:05

[1bunseki01-12-08]低濃度PCB 廃棄物における塗膜くず中のPCB 測定方法の最適化

○宮澤 由香1、根城　 惇1、西谷 大輔1 (1. (株) 産業公害・医学研究所 八戸分室)
16:05 〜 16:30

[1bunseki01-12-09]薄膜形成材料の高精度迅速分析方法の検討

○飯村 輝彦1、阿部 孝広1 (1. 三菱マテリアル (株) 中央研究所)
16:30 〜 16:35

[1bunseki01-12-13add]休憩

16:35 〜 17:00

[1bunseki01-12-10]銅雑原料のサンプリングおよび調製作業の効率化

○豊田 吏菜1、西岡茂樹 西岡茂樹1 (1. 住鉱テクノリサーチ (株))
17:00 〜 17:20

[1bunseki01-12-11]審判分析所視察報告

○富岡 賢一1 (1. 三菱マテリアル(株))
17:20 〜 17:30

[1bunseki01-12-12]部会表彰授賞式【前年度講演】内標準を用いた蛍光X線分析法によるNiおよびCoの高精度分析

○加岳井 敦1、寺尾 俊昭1 (1. 住友金属鉱山(株)　技術本部評価技術部　新居浜評価技術室)
カテゴリ一覧へ戻る