一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

2019年3月11日〜3月13日拓殖大学文京キャンパス

一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会

2019年3月11日〜3月13日拓殖大学文京キャンパス

[11A1-01]機械学習による外観検査への取り組み

橋本大樹¹、〇永田毅^1,2(1. みずほ情報総研、2. 筑波大学グローバル教育院)

閲覧にはパスワードが必要です

抄録パスワード認証
抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。