第33回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会
2019年3月11日〜3月13日拓殖大学 文京キャンパス
第33回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会
2019年3月11日〜3月13日拓殖大学 文京キャンパス
[12D1-01]バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発
〇池内 康祐1、神田 道也2、平井 智士2、四柳 浩之3、橋爪 正樹3(1. 徳島大学工学部電気電子工学科、2. 徳島大学大学院先端技術科学教育部、3. 徳島大学大学院社会産業理工学研究部)
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