講演情報
[144]磁性合金薄帯用磁気ひずみ計測技術に関する検討
*遠藤 恭1,2,3、島田 寛4、森 修4、佐藤 茂行4、内海 良一4 (1. 東北大工、2. 東北大CSIS、3. 東北大CSRN、4. 東栄科学産業（株）)
キーワード：
アモルファス金属磁性薄帯、磁気ひずみ定数、磁気ひずみ計測技術、インダクタンス
アモルファス金属磁性薄帯に大きさの異なる応力を付与して，そのときのインダクタンスの外部磁界変化を検出し，応力変化量と磁界変化量の関係から薄帯の磁気ひずみを評価できる計測技術を開発した．