講演情報

[S2.1][基調講演] マイクロ金属の疲労挙動観察

*澄川 貴志1、上垣 慎1、北村 隆行1 (1. 京大工)

キーワード:

マイクロ、疲労、金属、引張・圧縮、走査型電子顕微鏡

マイクロスケールの単結晶金属に関して,その引張・圧縮疲労挙動をその場観察試験によって明らかにする.