講演情報
[P60]共振式疲労試験機を用いたNiマイクロメッキ接合の長期信頼性
*YU Xinguang1、堂免 凌太2、森迫 勇2、小柴 佳子2、飯塚 智徳2、巽 宏平2 (1. 早大情シス（院生）、2. 早大情シス)
キーワード：
SiC、NMPB、インターコネクション、共振式疲労試験、長期信頼性
共振式疲労試験機を用いて試験を行い、NMPBと鉛フリーハンダ接合を比較し、疲労評価時間の加速とNMPBの長期信頼性が確保されているか検討を行った。結果として、NMPBの疲労限はハンダ接合より高いことがわかった。