講演情報
[S6.25]高エントロピー合金における照射損傷~その場観察による欠陥解析
*橋本 直幸1、CHEN Wei-Ying2 (1. 北海道大学大学院工学研究院、2. 米国アルゴンヌ国立研究所)
キーワード:
照射損傷、電子顕微鏡、イオン照射、高エントロピー合金
次世代型エネルギー炉の安全な稼働には、中性子照射環境に十分な耐性を持つ構造材料の開発が必要不可欠である。本研究では、316鋼とHEAの照射損傷、特にSFTやフランクループの形成・成長挙動とSFEの関係を精査する。
照射損傷、電子顕微鏡、イオン照射、高エントロピー合金