講演情報

14:10 〜 14:25

[4]化学反応オペランド計測のための超高圧TEM-QMS-GCシステムの開発

*武藤俊介¹、荒井重勇¹、樋口哲夫²、大田繁正² (1. 名古屋大未来研、2. 日本電子)

超高圧電子顕微鏡、差動排気型環境セル、四重極質量分析計、ガスクロマトグラフ、オペランド計測

当研究グループでは，反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡に四重極質量分析計およびガスクロマトグラフを設置し、不均一触媒による化学反応のオペランド計測を可能としたので報告する