[P] P53~P61

13:00 〜 14:30

[P60] 走査透過電子顕微鏡を用いたPt触媒粒子表面の原子間距離計測

*大森 雄貴¹、黄 馨慧¹、小林 俊介¹、桑原 彰秀¹ (1. JFCC)

キーワード：

Pt触媒粒子、走査透過電子顕微鏡、HAADF-STEM、原子間距離、PEFCs

STEMの観察手法の一つであるHAADF法と高精度画像取得・解析技術を組み合わせて、燃料電池電極触媒として使用されるPt触媒粒子やPt₃Co触媒粒子の表面Pt-Pt原子間距離計測をピコメートルスケールで実施した