講演情報
[P185]変形組織観察によるミクロ領域における応力・ひずみ分布の解析
*松尾 啓史1、森川 龍哉2、山﨑 重人2、田中 將己2 (1. 九州大工（院生）、2. 九州大工)
キーワード：
Electron backscattering diffraction(EBSD))、Digital image correration(DIC)、Deformation structure、Internal stresses、Tension test
Ni基超合金Inconel X-750について、SEM内で引張と変形組織のその場観察を行った。デジタル画像相関法とHR-EBSD法の併用により、同一の微細領域におけるひずみと応力を解析し、局所的な応力-ひずみ曲線を作製した。