講演情報

[S7.11]X線回折とSEM像による熱間押出ネオジム磁石の磁気特性予測

*佐々木 泰祐1、豊岡 善也1、大久保 忠勝1、宝野 和博1 (1. NIMS)

キーワード:

ネオジム磁石、磁気特性、X線回折、走査電子顕微鏡、機械学習

熱間押出ネオジム磁石を用いて、X線回折データを用いた磁気特性の予測の可能性と、特性の予測精度の向上にむけて走査型電子顕微鏡(SEM)像より得た組織情報を用いることの有効性について検討した。