講演情報
[P36]4D-STEMによるアモルファス磁性体の磁気パラメータ計測精度評価
○富田 雄人1、山本 知一1、山本 修司1、村上 恭和1 (1. 九大)
キーワード：
磁区構造、アモルファス磁性体、4D-STEM、電子線ホログラフィー、ローレンツ顕微鏡法
4D-STEMは2次元データである電子回折図形を2次元の範囲に渡って記録する手法であり，新たな磁区構造観察手法として期待されているが，その定量性については十分明らかになっていない．本研究では，この4D-STEMを用いて磁壁幅や磁束密度などの磁気パラメータの計測精度を既存手法と比較することで，その有用性について議論する．
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