学術展示（基礎研究、臨床研究、考案）

[学展-123] AIを応用した側面頭部エックス線規格写真による顎顔面計測の検討

山口 茉奈美¹, 黒田 康浩², 堤 真人^3,4, 山口 徹太郎¹ (1.神奈川歯科大学歯学部歯科矯正学講座歯科矯正学分野, 2.株式会社エディアンド, 3.筑波大学生存ダイナミクス研究センター, 4.名古屋大学大学院医学系研究科附属神経疾患・腫瘍分子医学研究センター細胞情報統合解析部門データ駆動生物学研究室)

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