放射線・NMR・熱分析／その他-1

10:00 〜 10:15

[F3004] 透過EBSD測定のための粉末試料前処理

*高橋 悟¹ (1. 住友金属鉱山(株))

キーワード：

Electron Backscatter Diffraction、Ar Ion milling、scanning electron microscope