一般ポスター／テクノレビューー１

[2P-041] GC-MS向け新規オプションユニットの試作開発 ～規制物質等の迅速スクリーニングへの適応～

○三島 有二¹、藤井 麻樹子²、津越 敬寿³ (1. (株)神戸工業試験場、2. 横浜国立大学、3. 産業技術総合研究所)

キーワード：

イオン付着イオン化質量分析法、スクリーニング分析、分子量計測、RoHS