30: 情報科学、理論科学-2

10:00 〜 10:15

[E1005] ベイズスペクトル超解像によるXPS測定の高速化検討

○中島 圭一¹、田口 秀之¹、後藤 未来¹、吉岡 信明¹、原田 俊太^2,3 (1. 日本パーカライジング株式会社、2. 名古屋大学　未来材料・システム研究所、3. SSR（株）)

キーワード：

X線光電子分光分析、ベイズ推定