第85回分析化学討論会
詳細検索

講演情報

[RD2015]TOF-SIMSを用いた分子量・重合度・化学状態解析

○田中 佑馬1、寺林 智昭1 (1. 富士フイルム(株))

キーワード：

表面、TOF-SIMS、分子量、重合度、化学状態

セッション詳細へ戻る