第85回分析化学討論会
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The 85th Symposium of the Japan Society for Analyt
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2025年5月31日 (土)
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[RD2016]
旭化成(株)の研究開発における解析技術の役割
~X線トポグラフィによる転位密度評価のための自動画像解析技術の開発~
○本多 葵一
1
、菊間 淳
1
(1. 旭化成株式会社 基盤技術研究所)
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キーワード:
無機材料、X線分析、X線トポグラフィ
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