セッション詳細

[1I3-GS-10f]AI応用:製造・検査・工程最適化

2026年6月8日(月) 13:40 〜 15:10
I会場(中会議室202A)
座長:植野 研(株式会社東芝)

[1I3-GS-10f-01]製造現場データのドメイン偏りを補う表形式拡散モデル

〇高澤 壮登1、木川 洋一1 (1. 日東電工株式会社)
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[1I3-GS-10f-02]説明性向上マルチモーダルAIによるMOCの異常予見潜在的異常発見に向けたアテンションによる実験的分析

〇中井 淳一1、藤村 拓弥2、浅野 憲司1、若松 智之1、戸田 智基2 (1. 株式会社アドヴィックス、2. 名古屋大学)
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[1I3-GS-10f-03]単一ラベル付き顧客苦情データからのマルチラベル分布推定に関する一考察

〇鈴木 柾孝1、笹野 朋子1、山極 綾子1、佐藤 健介2、後藤 正幸1 (1. 早稲田大学、2. 明治安田生命保険相互会社)
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[1I3-GS-10f-04]生成AIを活用した初心者向け組立作業習熟支援

〇中村 舜也1、平野 由彦1、三坂 啓介1、中村 拓真1、西村 英明1、伊藤 修1 (1. 本田技研工業株式会社)
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[1I3-GS-10f-05]撮影条件の変動に頑強な外観検査手法の確立

〇新村 諭1 (1. 長野県工業技術総合センター)
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[1I3-GS-10f-06]製造業におけるバラツキを考慮した確率分布推定可能な深層学習に基づくサロゲートモデル

〇荒木関 渉1、加藤 直也1、原 伸夫1、隈川 顕1、藤原 和樹1、北村 嘉朗1、和田 紀彦1、遠藤 翼2、乙津 聡夫2、田丸 博晴2、小林 洋平2 (1. パナソニック ホールディングス株式会社、2. 東京大学)
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