2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

2013年9月16日〜9月20日同志社大学京田辺キャンパス
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応用物理学会春季・秋季学術講演会
2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

2013年第74回応用物理学会秋季学術講演会

2013年9月16日〜9月20日同志社大学京田辺キャンパス

[16a-A13-10]セシウム含有自然起源試料のSIMS分析

○坂本哲夫1，大石乾詞1，長嶋悟2，川上勇3，奥村丈夫4(工学院大工1，トヤマ2，阿藤工務店3，日本中性子光学4)
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キーワード：

二次イオン質量分析法、セシウム

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