[16p-A25-1~16] 3.14 シリコンフォトニクス・集積フォトニクス

16:00 〜 16:15

[16p-A25-10] 回路構成の異なるユニタリ変換光回路の損失耐性に関する考察

〇黄 明智¹、トープラサートポン カシディット¹、高木 信一¹、竹中 充¹ (1.東大院工)

キーワード：

ユニタリ変換光回路、光損失、マッハ・ツェンダー干渉計

本研究では、マッハ・ツェンダー干渉計（MZI）を集積したユニタリ変換光回路のClements構造とBell構造に対して、変調損失の影響を数値計算により考察した。結果から、Bell構造では光損失の影響が小さいことが分かった。