講演情報
[17p-C31-18]低侵襲マイクロニードル電極による長期ニューロン計測と損傷評価
〇佐々木 陽向1、山下 幸司1、清水 快季1、坂本 兼盛1、沼野 利佳1、鯉田 考和1、河野 剛士1 (1.豊橋技科大)
キーワード：
脳信号計測、低侵襲、長期計測
脳神経科学などの分野において，マウスのニューロン信号を長期的に計測する技術が重要である．その手法として刺入型電極を用いた電気生理学的手法は，その高時空間分解能の点で他の手法より優れるが，長期的な計測では電極の太い刺入部や高い剛性による侵襲性が課題であった．本研究では直径5 µmの低侵襲Siマイクロニードル電極を提案し，長期ニューロン計測および組織損傷評価により本電極の低侵襲性を実証した．
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