講演情報

[19p-A32-4]全光型スクイージングレベル測定における光パラメトリック増幅利得の影響評価

〇柏崎 貴大1、井上 飛鳥1、山嶋 大地1、圓佛 晃次1、遠藤 護2,3、梅木 毅伺1、古澤 明2,3 (1.NTT、2.東大工、3.理研RQC)

キーワード:

スクイーズド光


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