講演情報

[19p-A37-5]スペクトルピークを用いた選択的高感度分光計測技術の開発

〇伊東 優1、北島 将太朗1、富田 英生1、阿部 恒2、西澤 典彦1 (1.名大院工、2.産総研)

キーワード:

ファイバレーザー、光周波数コム、分光計測


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