講演情報
[10a-A31-6]磁化緩和測定によるコンビナトリアルYεGd1-εBa2Cu3O7-d薄膜試料の局所電界電流特性の評価
〇呉 澤宇1、東川 甲平1、Queraltó Albert2、Ghiara Emma2、Pop Cornelia2、Gupta Kapli2、Obradors Xavier2、Puig Teresa2、木須 隆暢1 (1.九大院シス情、2.バルセロナ材料科学研究所)
キーワード：
走査型ホール素子磁気顕微法、コンビナトリアル希土類系高温超伝導薄膜、TLAG-CSD
TLAG-CSD法は高速成膜を実現できる。高性能薄膜の実現には、材料組成の最適化が重要である。しかし、組成と超伝導特性との関係については未解明な点が多い。特に、一般的な測定法では多数の組成条件を対象とした迅速な評価が困難である。我々はこれまでに局所電流密度特性および局所臨界温度分布を評価する手法を提案した。しかしながら、ピンニング特性を反映するE-J特性の局所評価は十分に行われていない。そこで本研究では、磁化緩和測定に基づいてコンビナトリアルREBCO薄膜の局所E-J特性を評価する手法について検討した。