講演情報

[10a-E204-10]二次電子制動放射線による重粒子線治療飛程検証法:ナイフエッジスリットカメラの開発

〇(PC)津田 路子1,2、山口 充孝1、長尾 悠人1、カン ハンギュ1、矢部 卓也1、吉田 英治1、山谷 泰賀1、坂間 誠1、水野 秀之1、河地 有木1,3、渡部 浩司4 (1.QST、2.学振特別研究員(PD)、3.F-REI、4.東北大)

キーワード:

二次電子制動放射線、重粒子線治療

重粒子線治療では、非侵襲的な治療ビームの飛程検証技術が求められている。飛程検証の手法の一つとして、二次電子制動放射線(SEB)を用いたイメージングが提案されている。本研究では、SEB測定を目的としたナイフエッジスリットカメラを開発し、HIMACにて照射実験を行った。レンジシフタ厚を変えて取得したSEBプロファイルで飛程に応じた形状変化を確認した。発表では飛程推定精度の定量評価結果を報告する。