講演情報
[11a-A33-10]逆光電子スペクトルのピーク分離解析：カーブフィッティング・二次微分・逆畳み込みの比較
〇中澤 遼太郎1、佐藤 晴輝1、吉田 弘幸1 (1.千葉大院工)
キーワード：
逆光電子分光、スペクトル解析、分光
電子分光は物質の電子状態を直接的に調べる手法であり、低エネルギー逆光電子分光法（LEIPS）は有機半導体などの非占有電子状態を低損傷かつ高信号雑音比な測定を可能とした。一方、電子分光スペクトルは装置分解能や電子状態の自然幅により近接したピークがしばしば重なって観測されるため、信頼性の高いピーク分離解析が重要である。本研究では、ペンタセン薄膜のLEIPSスペクトルを対象に、カーブフィッティング、二次微分、逆畳み込み解析を行った。実測およびモデルスペクトルの解析から、各手法のノイズ耐性とピーク分離能を評価し、電子分光スペクトル解析における実用的な指針を示す。