講演情報

[8a-E203-4]点欠陥制御と機械学習によるn型Bi2(Te,S)3の高性能化

〇並木 宏允1、望月 和人1、谷口 達彦1、小林 真大1、小川 大輔1、立花 直樹1 (1.都産技研)

キーワード:

機械学習、点欠陥制御、電子構造