講演情報
[8p-PA1-6]非線形な光周波数掃引を考慮した自動補間デュアルEOコム分光法による光周波数シフト量の精密計測
〇(M2)光岡 佑馬1、茶圓 春花1、西川 正1 (1.東京電機大)
キーワード：
光周波数コム、分光計測、デュアルコム
分光計測において, EOコムの波長帯域と波長分解能を両立して測定できる自動補間法は, 光源をフリーランニングで動作させるため, 光周波数掃引の非線形性によって光周波数シフト量の正確な評価が困難であった. 本研究では, 波長計データから算出した光周波数シフト速度比を用いて, RFコムスペクトル上の吸収ピーク間隔を補正し, 光周波数シフト量の精密な計測を目指す.