講演情報
[9p-B12-6]単一画素磁界イメージングにおける適応型バイナリーランダムパターンを用いた測定データ削減
〇田上 周路1、飛永 颯眞1、左藤 颯太1 (1.高知工科大)
キーワード：
単一画素計測、光ポンピング磁気センサ、磁気微粒子イメージング
単一画素イメージング（SPI）は少数の検出器で画像取得が可能な手法であるが、多数の照明パターンを必要とするため測定時間が課題となる。本研究では、対象の信号強度分布に応じて反射率を制御した適応型バイナリーランダムパターンを提案する。磁界分布画像を用いたシミュレーションの結果、信号強度比に対応したパターンを用いることで、従来法と同等の再構成品質を維持したまま必要測定データ数を約80%から50%まで削減できることを示した。