セッション詳細
[LS4(English)]Interherence/日本カンタム・デザイン
2024年7月17日(水) 12:00 〜 13:00
D会場 2F 中会議室202
[1D10]High sensitivity and high throughput microscopy: Chip-based technologies for precise control
of sample temperature and illumination
*Pierre Türschmann1, *Noel Fitzgerald1 (1. Interherence)