講演情報
[J191-05]ランダム加振を受ける宇宙用電子機器はんだ接続部の疲労設計のための簡易寿命予測式
〇保川 彰夫1、後藤 広大1、宮下 朋之1 (1. 早稲田大学)
キーワード：
Random vibration、Space equipment、Electronic equipment、Fatigue、Life prediction、Solder Joint
Random vibration、Space equipment、Electronic equipment、Fatigue、Life prediction、Solder Joint