講演情報

[OS18-3]電気特性イメージングに向けたマルチエコーBloch-Siegertシフト法による複素B1マッピング

伏見 幹史1, 草将 澄秋2, 関野 正樹2 (1.東京大学 大学院情報理工学系研究科, 2.Graduate School of Engineering, The University of Tokyo)

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