第82回日本放射線技術学会総会学術大会
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講演情報

[TOP-002]X線平板検出器のX線吸収エネルギーに対する画素値とノイズ量の解析

岡本 悠輝1, 天野 貴司2, 後藤 佐知子3 (1.岡山大学大学院保健学研究科, 2.川崎医療福祉大学　医療技術学部　診療放射線技術学科, 3.岡山大学学術研究院　保健学域)
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