[A2-1] A-2：実験力学と計測技術

9:00 〜 9:15日本語

[A2-1-01] 切欠き試験片を用いた高温ひずみ場計測とFEMUによるクリープパラメータの逆解析

*田名網 俊介¹、黒川 悠¹、阪口 基己¹、井上 裕嗣¹ (1. 東京科学大学)

キーワード：

クリープ、逆解析、高温デジタル画像相関法、FEMU、構成則モデリング、MT2.0