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10:15 〜 10:30
日本語
[MPD-1-1-06]
高分子材料のその場観察に向けた両側引張試験システムの開発
*樋口 理宏
1
、中村 恵翔
1
、棚橋 望
2
(1. 金沢大学、2. 金沢大学大学院自然科学研究科)
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キーワード:
両側引張試験、高分子材料、ひずみ速度、その場観察、スプリット・ホプキンソン棒法
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