講演情報

[MPD-1-1-06]高分子材料のその場観察に向けた両側引張試験システムの開発

*樋口 理宏1、中村 恵翔1、棚橋 望2 (1. 金沢大学、2. 金沢大学大学院自然科学研究科)

キーワード:

両側引張試験、高分子材料、ひずみ速度、その場観察、スプリット・ホプキンソン棒法