[MPF-1] MPF：新技術開発フォーラム

14:00 〜 14:15日本語

[MPF-1-03] レーザーメタル積層プロセスから構造解析へのシームレス数値解析手法に関する研究

*和泉 大晟¹、荒井 正行² (1. トーカロ（株）、2. 東京理科大学)

キーワード：

レーザーメタルデポジション、シームレス解析、残留応力、欠陥、疲労