[1401-10-01]スルフィド化合物によるパラジウムの抽出特性ー塩酸系及び臭化水素酸系の比較
○成田 弘一1、前田 基生2、所 千晴2、田中 幹也1、元川 竜平3、塩飽 秀啓3、矢板 毅3(1. 産業技術総合研究所、2. 早稲田大学、3. 日本原子力研究開発機構)
司会:尾形剛志(産業技術研究所)
Chairman: Takeshi Ogata (AIST), Hideaki Sasaki (Ehime University), Kazuya Koyama (Chiba Institute of Technology)
Chairman: Takeshi Ogata (AIST), Hideaki Sasaki (Ehime University), Kazuya Koyama (Chiba Institute of Technology)
キーワード:
溶媒抽出、パラジウム、塩酸、臭化水素酸
スルフィド化合物(ジ-n-ヘキシルスルフィド(DHS)及びN,N,N’,N’-テトラ-2-エチルヘキシルチオジグリコールアミド(TEHTDGA))を用い、溶媒抽出法による塩酸及び臭化水素酸からのパラジウムの分離挙動の比較を行った。パラジウム抽出率の大きさは、DHSではHBr系 > HCl系であったが、一方TEHTDGAではHCl系 > HBr系となった。FT-IR及びEXAFSによる構造解析より、いずれの抽出系においても [PdX2E2] 錯体(X = Cl or Br, E = DHS or TEHTDGA)が主要な抽出錯体であり、また硫黄原子がパラジウムへ配位していることが示唆された。本講演では、構造パラメーターと抽出挙動の関係についても詳しく発表する予定である。
