講演情報
[3804-07-04]MLA-EBSD複合システムによる選鉱試験産物の鉱物解析
○工藤 賢太郎1、髙橋 達1 (1. 独立行政法人 石油天然ガス・金属鉱物資源機構)
司会:三木 一(九州大学)
キーワード：
鉱物単体分離解析、電子線後方散乱回折、菊池パターン
JOGMEC金属資源技術研究所では、主に鉱物単体分離解析装置（MLA）を用いることで浮選試験等の選鉱試験で得られた産物に対して鉱物組成や単体分離度などを測定し解析を行っている。近年は、低品位鉱石や複雑・微細な有価鉱物を含有する鉱石を扱う研究テーマが多く、数十µm以下の微粉砕産物の中から、ppmオーダー程度しか含まれない鉱物の探索やその存在形態を把握するため、微小領域における正確な分析技術が必要である。また、未知鉱物を特定する際、鉱物学的に多形結晶（閃亜鉛鉱とウルツ鉱など）が存在する微粒子に対しては化学組成だけではなく結晶構造をも考慮した上での判断が必須となる。本稿では、現在普及しているMLAに電子線後方散乱回折（EBSD）検出器を取り付けることで可能となった組成分析と結晶構造を同時に測定・解析した一例について紹介する。EBSDを用いるメリットとしては、対象とする一つの微粒子に対して電子線によるスポット分析により、回折パターンを取得することで結晶光学的に構造を求めることに加えて、結晶性（結晶質／非結晶質）の可否を判断する上でも有効な手法と成りうる。