【企画講演】 ワイヤロープ ②　［9/4(木) PM 　第３会場］

14:55 〜 15:20

[3305-10-05] 画像処理によるワイヤロープの径・ピッチ測定システムの開発

○平勢 理士¹、田子 和秀² (1. 東京製綱株式会社、2. 株式会社エクスビジョン)

司会：井上新也（神鋼鋼線工業(株)）

キーワード：

ワイヤロープ、非破壊検査、画像処理

ワイヤロープの品質保証のためには、径・ピッチなどの寸法を全長に渡って正確に測定できることが理想であるが、一般的なレーザー測定器などでは測定は困難である。
今回、バックライトおよびカメラを利用した画像撮影と、得られた画像に対する画像処理により、ワイヤロープの径・ピッチを全長に渡り測定するシステムを開発したので紹介する。