分子流体1

16:25 〜 16:45

[1-39] 疎液性欠陥による固気液接触線のピニングに関する分子動力学解析：欠陥の大きさと接触線の厚さに関する考察

*山下 史流¹、山口 康隆¹ (1. 大阪大学)

キーワード：

接触線、ピニング、分子動力学法、疎液性欠陥、ナノスケール