非ニュートン

16:40 〜 17:00

[E7-03] Dripping-onto-Substrate法による高分子溶液の伸長計測に基づくレオロジー評価

*佐藤 健¹、樋口 泰亮²、瀧 健太郎² (1. 金沢大学設計製造技術研究所、2. 金沢大学大学院自然科学研究科)

キーワード：

粘弾性流体、伸長レオロジー、Dripping-onto-Substrate法