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相関顕微鏡法によるマルチモーダル解析を身近にするZEISSのハード×ソフト

共催：カールツァイス株式会社

電子顕微鏡（EM）はナノスケールの超微細構造を観察できる一方、取得される情報は固定時点における「静的構造」に限られます。本講演では、過去の神経活動履歴を反映した蛍光標識とcorrelative light and electron microscopy（CLEM）を組み合わせることで、EM解析へ「時間軸」を導入する新しいアプローチを、OIST記憶研究ユニット　准教授　田中和正先生にご紹介いただきます。<br>「cFos-tTAマウスとeGRASP probeを組み合わせ、記憶獲得時に活動した海馬エングラム細胞間シナプスを蛍光標識した。標識シナプスをconfocal microscopyにより3次元撮像した後、二光子レーザーによるnear-infrared branding（NIRB）を用いてROIを刻印し、その情報をもとにserial block-face electron microscopy（SBEM）による超微細構造解析を行った。さらに、engram dendriteを電顕像中で追跡することで、記憶形成時に実際に形成されたengram-to-engram synapseを同定した。本手法は、従来のEMでは失われていた『どの経験によって形成された構造か』という履歴情報を保持したまま超微細構造解析を可能にする。活動依存的回路再編成、記憶痕跡、シナプス可塑性の理解に向けた新しいCLEM戦略として、その可能性を議論する。」

NEURO2026

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[2LS09-01]相関顕微鏡法によるマルチモーダル解析を身近にするZEISSのハード×ソフト

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