2024年電子情報通信学会ソサイエティ大会
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講演情報

15:30 〜 15:45

[B-1C-23]大型電波暗室における高精度なRCS測定基準の検討

〇倉本 晶夫1、小熊 伸彦1、大山 隆幸1 (1. NECプラットフォ－ムズ株式会社)
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キーワード：

レ－ダ断面積

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