講演情報

[IS1-02]VAEGANの再構成誤差とDiscriminatorのROIを活用した異常検出

*木村 大毅1、Chaudhury Subhajit1、成田 穂2、Munawar Asim1、立花 隆輝1 (1. IBM 東京基礎研究所、2. 東京大学)