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[1B03]飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)とFIB-SEMの組み合わせによる画像処理を使用したバッテリーデータ解析

*Shogo Kawai1, Eisuke Ito1, Luigi Raspolini1, Patrick Barthelemy1 (1. Thermo Fisher Scientific)

Keywords:

TOF Ion Mass Spectometry,NMC,Image Processing