第65回電池討論会
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9:40 〜 10:00
[1B03]
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)とFIB-SEMの組み合わせによる画像処理を使用したバッテリーデータ解析
*河合 将吾
1
、伊藤 栄祐
1
、Raspolini Luigi
1
、Barthelemy Patrick
1
(1. サーモフィッシャーサイエンティフィック)
キーワード:
TOF Ion Mass Spectometry、NMC、Image Processing
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