講演情報

[1B03]飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)とFIB-SEMの組み合わせによる画像処理を使用したバッテリーデータ解析

*河合 将吾1、伊藤 栄祐1、Raspolini Luigi1、Barthelemy Patrick1 (1. サーモフィッシャーサイエンティフィック)

キーワード:

TOF Ion Mass Spectometry、NMC、Image Processing