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[1I13]AST試験後の電解質膜状態観察に基づく劣化モードの分類と考察

*Chunyan Li1, Hiroyuki Kanesaka1, Toshikazu Ogino1, Hiroki Kusakabe1 (1. FC-Cubic TRA)

Keywords:

電解質膜劣化,劣化モード,AST試験